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高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產(chǎn)品(整機)、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗?zāi)軌蛄私庠囼灅悠芬淮位蜻B續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber簡介:本試驗箱適用于考核產(chǎn)品(整機)、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗?zāi)軌蛄私庠囼灅悠芬淮位蜻B續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。
高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shù)參數(shù)
型號
單位
TS-60
TS-120
TS-120P
TS-300
TS-300P
測試空間容積
L
60
120
120
300
300
移動提籃最大負載
Kg
20
50
50
100
100
實驗空間尺寸,高(H)×寬(W)×深(D)
mm
370x380x430
410x470x650
410x470x650
610x770x650
610x770x650
熱箱溫度范圍
℃
+50 至 +220
+50 至 +220
+50 至 +220
+50 至 +220
+50 至 +220
冷箱溫度范圍
℃
-80至 +70
-80至 +70
-80至 +70
-80至 +70
-80至 +70
熱箱升溫速率
K/min
17
14
18
11
23
冷箱降溫速率1
K/min
3.7
6.3
7.5
5.0
12.0
冷箱升溫速率,單箱操作1
K/min
3.7
2.0
2.0
1.5
1.5
溫度波動度2
K
±0.3 至±1.0
±0.3 至±1.0
±0.3 至±1.0
±0.3 至±1.0
±0.3 至±1.0
溫度均勻性3
K
±0.5 至±2.0
±0.5 至±2.0
±1.0至±2.0
±0.5 至±2.0
±1.0至±2.0
熱/冷箱轉(zhuǎn)換時間
sec
<10
<10
<10
<10
<10
恢復(fù)時間-溫度變化測試
min
<154
<155
<126
<157
<158
熱箱校準值9
℃
+125
+125
+125
+125
+125
冷箱校準值9
℃
-40
-40
-40
-40
-40
1根據(jù)IEC 60068-3-5.通過選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來提高溫度變化速率.
2有效測試空間中心點。
3基于設(shè)置點:溫度范圍-65℃ to +200℃
4MIL-STD-883E,方法 1010.9,強度級 D,4.5 kglCs 分布于2個樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測量.
5MIL-STD-883J,方法 1010.9,強度級 D,12 kglCs 分布于3個樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測量.
6MIL-STD-883F,方法1010.9,強度級 D,20 kgCs 分布于3個樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測量.
7MIL-STD-883J,方法 1010.9,強度級 F,25 kg lCs 分布于3個樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測量.
8MIL-STD-883
F,方法 1010.9,強度級 F,50 kglCs 分布于3個樣品架內(nèi),樣品內(nèi)測量.
9出廠計量.