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5G 通訊模塊具有傳輸速度快, 瞬間功率變化大, 自由運(yùn)行時(shí)溫度變化快速的特點(diǎn), 因此對(duì)于溫度測(cè)試方面有較多的等級(jí)要求. 針對(duì) 5G 模塊溫度測(cè)試, 美國(guó) inTEST Temptronic 熱流儀能夠快速提供高低溫測(cè)試環(huán)境, ...
在電子, 航空航天, 通訊實(shí)驗(yàn)等行業(yè)中, 對(duì)于使用的芯片有著嚴(yán)格的要求, 使用的芯片在嚴(yán)苛環(huán)境中能否正常工作, 可靠性如何, 成為重要的關(guān)注點(diǎn), 而傳統(tǒng)驗(yàn)證方法由于溫度變化, 穩(wěn)定速度慢和無(wú)法提供快速變化的...
射頻芯片 RF chip 主要為手機(jī)等移動(dòng)終端設(shè)備提供無(wú)線電磁波信號(hào)的發(fā)送和接收, 是進(jìn)行蜂窩網(wǎng)絡(luò)連接, Wi-Fi, 藍(lán)牙, GPS 等無(wú)線通信功能所必需的核心模塊. 全球射頻市場(chǎng)處在一個(gè)高速發(fā)展的時(shí)代, 芯片和系統(tǒng)制...
inTEST 冷熱沖擊機(jī)可與愛德萬(wàn) advantest, 泰瑞達(dá) teradyne, 惠瑞捷 verigy 等測(cè)試機(jī)聯(lián)用, 進(jìn)行芯片的高低溫沖擊測(cè)試. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)芯片的真實(shí)溫度,可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流, 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board 上的芯片進(jìn)行...
集成電路 IC 卡高低溫測(cè)試原因:集成電路 IC 卡在出廠前必須經(jīng)過(guò)環(huán)境測(cè)試,用來(lái)模擬集成電路在不同工作環(huán)境中的性能,inTEST-Temptronic 高低溫測(cè)試機(jī)憑借封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路專用高低溫測(cè)試機(jī)協(xié)助廠商...
美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可與愛德萬(wàn) advantest, 泰瑞達(dá) teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機(jī)聯(lián)用, 進(jìn)行半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試. inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度滿足半導(dǎo)體芯片的溫度沖擊和...
壓力傳感器 MENS 是由微加工技術(shù)制備, 特征結(jié)構(gòu)在微米尺度 1um~0.1mm 范圍,集成有微傳感器, 微致動(dòng)器, 微電子信號(hào)處理與控制電路等部件的微型系統(tǒng). 80%以上的 MENS 采用硅微工藝進(jìn)行制作, 并且需要在特定...
inTEST 熱流儀腔體濾波器模塊高低溫測(cè)試 腔體濾波器就是采用諧振腔體結(jié)構(gòu)的微波濾波器. 一個(gè)腔體能夠等效成電感并聯(lián)電容, 從而形成一個(gè)諧振級(jí), 實(shí)現(xiàn)微波濾波功能. 較之其他性質(zhì)的微波濾波器而言, 腔體濾波...
inTEST - Temptronic 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī)閃存溫度測(cè)試應(yīng)用: 閃存(Flash Memory),是非揮發(fā)性內(nèi)存的一種,不需電力來(lái)維持?jǐn)?shù)據(jù)的儲(chǔ)存,可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種,前者用于儲(chǔ)存程序代碼,后者...
inTEST ATS-710 應(yīng)用于 100G 光模塊高低溫測(cè)試
inTEST ATS-710 通訊模塊高低溫測(cè)試 在通訊模塊中,由于傳輸速率的不斷增加, 在模塊工作的時(shí)候, 很大程度會(huì)出現(xiàn)工作模塊溫度飆升的情況, 為了保障模塊的正常運(yùn)行, 需要進(jìn)行通訊模塊溫度可靠性測(cè)試, 傳統(tǒng)驗(yàn)...
inTEST Thermostream 高低溫測(cè)試機(jī)應(yīng)用于半導(dǎo)體元器件高低溫測(cè)試 半導(dǎo)體器件 semiconductor device, 是導(dǎo)電性介于良導(dǎo)電體與絕緣體之間, 利用半導(dǎo)體材料特殊電特性來(lái)完成特定功能的電子器件, 可用來(lái)產(chǎn)生,...
inTEST ECO-560 高低溫測(cè)試機(jī)成功應(yīng)用于研發(fā) 400G 光模塊可靠性測(cè)試.
美國(guó) inTEST 旗下 Sigma 高低溫試驗(yàn)箱, 提供標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)和客制化型號(hào)供選擇. Sigma 高低溫沖擊試驗(yàn)箱超過(guò)50年的溫度試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn), 提供各種尺寸形狀的高低溫腔體,測(cè)試溫度范圍 -185 至+500°C, 變溫速率快,...
美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于照明級(jí)大功率LED器件,LED封裝的可靠性測(cè)試.
美國(guó) inTEST ECO-560 經(jīng)濟(jì)型高低溫沖擊測(cè)試機(jī)中國(guó)總代理! 溫度沖擊范圍: -60 °C 至 +150 °C, 適用于對(duì)各類元件,零件, 混合件, 模塊,子組件和 PCB 電路板進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的溫度沖擊. 與其他熱流儀相比, 占...
美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫沖擊熱流儀可與德國(guó) AUTRONIC DMS 液晶顯示屏測(cè)量系統(tǒng)聯(lián)用進(jìn)行 LED 環(huán)境溫度測(cè)試. 每個(gè) DMS 系統(tǒng)都可以擴(kuò)展一個(gè)適當(dāng)?shù)睦錈嵯到y(tǒng), 以進(jìn)行 LED 光學(xué)顯示特性和一致性測(cè)試的溫...
美國(guó) inTEST 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī) ATS-545-M 應(yīng)用于 PCB 板、電子芯片高低溫測(cè)試。 PCB板、電子芯片在出廠前需要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試,模擬PCB板在氣候環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的適應(yīng)性,已確保其在極端環(huán)境下也可正常工作...
隨著國(guó)家對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)愈加重視, 國(guó)內(nèi)各高校通過(guò)積極籌備半導(dǎo)體聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室等舉措來(lái)推動(dòng)集成電路的產(chǎn)業(yè)研究和人才教育的發(fā)展, 美國(guó) inTEST ThermoStream熱流儀提供清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 可達(dá)到快速精...
inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測(cè)試: 觸摸屏控制芯片又稱觸摸屏芯片, 觸控芯片, 屬于半導(dǎo)體芯片一種, 廣泛應(yīng)用于如消費(fèi)類電子, 家用電器, 車載觸摸屏, 移動(dòng)終端, 智能電網(wǎng), 物聯(lián)網(wǎng)等多個(gè)領(lǐng)域. 觸...
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